【摘要】本發明公開了一種隨機序列生成方法及其裝置，尤其是涉及可以使用在基于OFDM的數字廣播系統中的帶限隨機序列生成方法及其裝置。該隨機序列生成方法，其特征在于，包括：在頻域中生成頻域序列的步驟；將頻域生成的頻域序列轉換到時域的步驟；將從頻
【摘要】 本發明屬于射頻識別技術的測試領域，具體地說，涉及一種物體表面粘貼電子標簽及包裝材料選擇的測試方法。包括步驟：a)使用實時頻譜分析儀測量物體表面標簽的返回信號強度；b)測試電子標簽靜態下的讀寫距離參數；c)測試電子標簽動態下的讀寫距離參數；d)綜合測試結果選擇物體表面粘貼電子標簽的最佳位置；e)改變物體表面介質材料，測試讀寫距離參數。用于測試RFID標簽粘貼在不同物體上的最佳位置，并推薦物體最佳包裝介質，為行業應用提供參考。確定針對不同貨物、貨箱、環境下，單、多標簽RFID系統的最佳貼附位置，并為貨箱及包裝材料提出合理建議，簡化企業集成RFID技術的過程，提高技術革新效率。 【專利類型】發明申請 【申請人】中國科學院自動化研究所 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】100080北京市海淀區中關村東路95號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610011537.3 【申請日】2006-03-22 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101042722A 【公開公告日】2007-09-26 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100476855C 【授權公告日】2009-04-08 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】G06K7/00 【發明人】劉禹; 趙健; 馬良俊; 田利梅 【主權項內容】1、一種物體表面粘貼電子標簽及包裝材料選擇的測試方法，其特征 在于：該方法包括以下步驟： a)使用實時頻譜分析儀測量物體表面標簽的返回信號強度； b)測試電子標簽靜態下的讀寫距離參數； c)測試電子標簽動態下的讀寫距離參數； d)綜合測試結果選擇物體表面粘貼電子標簽的最佳位置； e)改變物體表面介質材料，測試讀寫距離參數。 【當前權利人】中國科學院自動化研究所 【當前專利權人地址】北京市海淀區中關村東路95號 【統一社會信用代碼】12100000400010945B 【被引證次數】16 【被自引次數】3.0 【被他引次數】13.0 【家族引證次數】2.0 【家族被引證次數】16
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