【摘要】本發(fā)明是關(guān)于一種畫素結(jié)構(gòu)，適于藉由一基板上的一掃描線與一資料線驅(qū)動，此畫素結(jié)構(gòu)包括一主動元件、一保護(hù)層以及一畫素電極。其中，主動元件配置于基板上，且與掃描線及資料線電性相連。保護(hù)層覆蓋掃描線、資料線以及主動元件，且保護(hù)層具有一第一開
【摘要】 本發(fā)明是揭露一種含貴金屬的檢測裝置及檢測系統(tǒng)及其方法。此含貴金屬的檢測裝置包含一平面波導(dǎo)板、一貴金屬奈米粒子層及一上蓋。其中，平面波導(dǎo)板具有一上平面，貴金屬奈米粒子層均勻的分布于平面波導(dǎo)板的上平面上，上蓋具有一凹槽并且蓋合于平面波導(dǎo)板的上平面，使凹槽與上平面形成一空間。爰此，以含貴金屬奈米粒子的檢測裝置引入一入射光，以檢測容置于上述空間的待測物質(zhì)。 【專利類型】發(fā)明申請 【申請人】周禮君 【申請人類型】個人 【申請人地址】中國臺灣嘉義市東區(qū)圳頭里22鄰林森東路470巷111號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請?zhí)枴緾N200610001734.7 【申請日】2006-01-23 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101008608A 【公開公告日】2007-08-01 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN101008608B 【授權(quán)公告日】2010-12-22 【授權(quán)公告年份】2010.0 【IPC分類號】G01N21/17; G01N21/55; G01N21/41; G01N21/552 【發(fā)明人】周禮君; 許偉庭; 謝文馨; 陳柏良; 邱冠智 【主權(quán)項內(nèi)容】1、一種含貴金屬的檢測裝置，至少包含： 一平面波導(dǎo)板，具有一上平面； 一貴金屬奈米粒子層，分布于該平面波導(dǎo)板的該上 平面上。 【當(dāng)前權(quán)利人】周禮君 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】中國臺灣嘉義市東區(qū)圳頭里22鄰林森東路470巷111號 【被引證次數(shù)】1 【被自引次數(shù)】1.0 【家族引證次數(shù)】2.0 【家族被引證次數(shù)】1
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