【摘要】本發(fā)明是關于一種畫素結構，適于藉由一基板上的一掃描線與一資料線驅動，此畫素結構包括一主動元件、一保護層以及一畫素電極。其中，主動元件配置于基板上，且與掃描線及資料線電性相連。保護層覆蓋掃描線、資料線以及主動元件，且保護層具有一第一開
【摘要】 本發(fā)明涉及一種集成電路靜態(tài)參數的測量裝置，用于對待測集成電路作靜態(tài)測試，其中包括：模式選擇開關；主控單元；電流取樣單元；電壓取樣單元；比較單元；邏輯判斷單元；及反饋選擇開關。該測量裝置在測量時，可以自動根據集成電路的負載，決定以何種輸出模式到集成電路。該測量裝置工作在電壓輸出模式時自動對電流值設限，并且，工作在電流輸出模式時自動對電壓值設限，以穩(wěn)定工作電壓與工作電流的范圍。本發(fā)明的測量裝置根據穩(wěn)定工作電壓與工作電流的范圍，在待測集成電路發(fā)生故障時，得以自我保護，同時不會危及到待測集成電路。 【專利類型】發(fā)明申請 【申請人】久元電子股份有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】中國臺灣新竹市 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請?zhí)枴緾N200610006191.8 【申請日】2006-01-25 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101008664A 【公開公告日】2007-08-01 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100458459C 【授權公告日】2009-02-04 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】G01R31/28 【發(fā)明人】汪秉龍; 陳中和; 陳桂標 【主權項內容】1.一種集成電路靜態(tài)參數的測量裝置，用于對待測集成電路作靜態(tài)測 試，其特征在于包括： 模式選擇開關，接收至少一個限制信號，并且根據模式選擇信號以輸出 該至少一個限制信號之一； 主控單元，根據該至少一個限制信號之一，以提供測試信號給該待測集 成電路； 電流取樣單元，采集流過該待測集成電路的電流，以及輸出電流取樣信 號； 電壓取樣單元，采集該待測集成電路上的電壓，以及輸出電壓取樣信號； 比較單元，將該電流取樣信號與該電壓取樣信號對該至少一個限制信號 進行比較運算，以及輸出邏輯信號； 邏輯判斷單元，接收該邏輯信號，以及輸出該模式選擇信號；及 反饋選擇開關，連接于該主控單元、該電流取樣單元及該電壓取樣單元， 該反饋選擇開關根據該模式選擇信號，輸出該電流取樣信號與該電壓取樣信 號之一。 【當前權利人】久元電子股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣新竹市 【家族引證次數】2.0
未經允許不得轉載：http://m.mhvdw.cn/1776625870.html
喜歡就贊一下
