【摘要】本發(fā)明涉及一種集成電路靜態(tài)參數(shù)的測量裝置，用于對(duì)待測集成電路作靜態(tài)測試，其中包括：模式選擇開關(guān)；主控單元；電流取樣單元；電壓取樣單元；比較單元；邏輯判斷單元；及反饋選擇開關(guān)。該測量裝置在測量時(shí)，可以自動(dòng)根據(jù)集成電路的負(fù)載，決定以何種
【摘要】 1.左視圖與右視圖對(duì)稱，省略左視圖。 2.仰視圖為不常見面，省略仰視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計(jì) 【申請(qǐng)人】劉明煇 【申請(qǐng)人類型】個(gè)人 【申請(qǐng)人地址】臺(tái)灣省臺(tái)北市信義區(qū)吳興街 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國 【申請(qǐng)人城市】臺(tái)灣省 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200630053973.8 【申請(qǐng)日】2006-03-08 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN3636178D 【公開公告日】2007-04-25 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN3636178D 【授權(quán)公告日】2007-04-25 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】劉明煇 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】劉明煇 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】臺(tái)灣省臺(tái)北市信義區(qū)吳興街
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