【摘要】一種鋁電解用磷生鐵，涉及一種用于鋁電解鋁生產中用于連結鋼爪和炭塊的磷生鐵。其特征在于其重量百分比組成為：2.8％～3.6％碳、0.6％～1.2％磷、2％～4％硅、0.3％～0.7％錳，余量為鐵和不可避免的雜質，其中S＜0.12％。由
【摘要】 一種對單一顆粒物進行多功能檢測的微流控芯片裝置，包括：其上設有由連通的第一、第二部分水平凹槽組成的水平凹槽的基片；水平凹槽一側設內裝光纖的第一垂向凹槽，另一側設第二垂向凹槽；第一、第二部分水平凹槽和第二垂向凹槽外端處分別設進液池、出液池和發光試劑進樣池；一緊密貼于基片上的蓋板；與第一垂向凹槽共軸的激光器，光纖將激光器輸出的激光引入到微流控芯片裝置中；一位于基片下方的配有濾光片的光電倍增管，其安放方向和光纖引入方向正交；位于第一部分水平凹槽1與第二部分水平凹槽連接處正上方熒光顯微鏡。使用時待測顆粒物被引入通道并定位在粗細通道交界處，便可對該待測顆粒物進行多功能檢測。結構簡單，使用和制作方便。。 【專利類型】發明申請 【申請人】清華大學 【申請人類型】學校 【申請人地址】100084北京市100084－82號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610171512.X 【申請日】2006-12-30 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1987420A 【公開公告日】2007-06-27 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100552422C 【授權公告日】2009-10-21 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】G01N15/10; G01N21/00 【發明人】林金明; 劉江疆 【主權項內容】1、一種對單一顆粒物進行多功能檢測的微流控芯片裝置，包括： 一基片(1)； 所述基片(1)的上表面上設置一水平凹槽，該水平凹槽由相互連通的第一 部分水平凹槽(11)和第二部分水平凹槽(12)組成，所述第一部分水平凹槽 (11)的截面面積為0.03-0.08mm2，所述第二部分水平凹槽(12)的截面面積 為0.002-0.004mm2； 設置在所述基片(1)上表面上的所述水平凹槽一側且與所述水平凹槽垂直 的內裝光纖的第一垂向凹槽(13)，所述第三垂向凹槽(13)的內端距所述第二 水平凹槽(12)的槽邊0.15-0.2mm； 設置在所述基片(1)上表面上的所述水平凹槽另一側且與所述水平凹槽垂 直相通的第二垂向凹槽(14)；所述第二垂向凹槽(14)的截面面積為0.08- 0.1mm2； 設置在所述第一部分水平凹槽(11)外端處的與所述第一部分水平凹槽 (11)相通的圓筒型進液池(112)； 設置在所述第二部分水平凹槽(12)外端處且與第二部分水平凹槽(12)相 通的圓筒型出液池(122)； 設置在所述第二垂向凹槽(14)外端部處且與所述第二垂向凹槽(14)相通 的圓筒型發光試劑進樣池(142)； -緊密貼合于所述基片(1)上表面上且與所述基片(1)尺寸相同的蓋板； 在所述蓋板上與所述圓筒型進液池(112)和圓筒型出液池(122)以及圓筒型發 光試劑池(142)的相對應處分別設有通孔，所述通孔上分別連接進液管 (111)、出液管(121)以及發光試劑進樣管(141)； 一激光器(3)及一光電倍增管(4)；所述激光器(3)與所述第一垂向凹槽 (13)共軸，所述裝在所述第一垂向凹槽(13)的光纖將激光器(3)輸出的激 光引入到微流控芯片裝置中；所述光電倍增管(4)配置有濾光片并位于所述基片 (1)的下方，其安放方向和光纖的引入方向正交； 一帶有CCD的熒光顯微鏡(2)；所述帶有CCD的熒光顯微鏡(2)位于所述第一 部分水平凹槽(11)與所述第二部分水平凹槽12連接處正上方。。 【當前權利人】清華大學 【當前專利權人地址】北京市100084-82號 【專利權人類型】公立 【統一社會信用代碼】12100000400000624D 【被引證次數】12 【被他引次數】12.0 【家族引證次數】5.0 【家族被引證次數】12
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