【摘要】一種偽彩抑制方法，對圖像各像素點進行如下處 理：根據像素點的亮度分量A進行邊緣檢測，獲得當前像素點 的邊緣值Edge及其絕對值abs_edge；若abs_edge＞edge_max， 則abs_edge＝edge_max；若abs_
【摘要】 設計要點為光盤正面圖形，省略其它視圖。 【專利類型】外觀設計 【申請人】紫光股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】100084北京市海淀區清華大學東門外紫光大樓405室 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200630022153.2 【申請日】2006-10-11 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3679928D 【公開公告日】2007-08-15 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN3679928D 【授權公告日】2007-08-15 【授權公告年份】2007.0 【發明人】李凱兵; 孔煒 【主權項內容】無 【當前權利人】紫光股份有限公司 【當前專利權人地址】北京市海淀區清華大學東門外紫光大樓405室 【專利權人類型】其他股份有限公司(上市) 【統一社會信用代碼】91110000700218641X
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