【摘要】一種平面核磁共振微線圈微檢測器，由平面核磁 共振微線圈[1]和微流道結(jié)構(gòu)[2]組成，采用一體式設(shè)計(jì)，平面核 磁共振微線圈[1]加工在聚酰亞胺基片[3]表面，微流道結(jié)構(gòu)[2] 為長方體結(jié)構(gòu)，加工在聚酰亞胺基片[3]的另一面，由一聚酰亞
【專利類型】外觀設(shè)計(jì) 【申請人】方衛(wèi)紅 【申請人類型】個(gè)人 【申請人地址】100039北京市海淀區(qū)西翠路今日家園7棟507室 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區(qū)縣】海淀區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630021867.1 【申請日】2006-07-13 【申請年份】2006 【公開公告號(hào)】CN3647205D 【公開公告日】2007-05-16 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN3647205D 【授權(quán)公告日】2007-05-16 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】方衛(wèi)紅 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】方衛(wèi)紅 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】北京市海淀區(qū)西翠路今日家園7棟507室
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