【摘要】制作硫酸慶大霉素檢測標準曲線的方法及硫酸 慶大霉素酶聯免疫快速檢測方法，它涉及一種制作硫酸慶大霉 素檢測標準曲線的方法及硫酸慶大霉素檢測方法。它解決了目 前硫酸慶大霉素檢測法檢測時間長的問題。繪標準曲線：蛋白 與硫酸慶大霉素偶聯后注
【摘要】 1.立體圖、使用狀態參考圖和主視圖的白色部分為鏡面。 2.省略其他視圖。 ： 【專利類型】外觀設計 【申請人】李謙 【申請人類型】個人 【申請人地址】100015北京市朝陽區南皋路草場地155號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】朝陽區 【申請號】CN200630158272.0 【申請日】2006-05-29 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3622783D 【公開公告日】2007-03-21 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN3622783D 【授權公告日】2007-03-21 【授權公告年份】2007.0 【發明人】李謙 【主權項內容】無 【當前權利人】李謙 【當前專利權人地址】北京市朝陽區南皋路草場地155號
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