【摘要】本發明公開了一種抗失諧被動調Q集成固體激光器。一種被動調Q集成固體激光器，包括激光晶體(3)，其特征在于，該激光晶體(3)的一端為直角圓錐(4)，該直角圓錐(4)的錐角為90°，所述激光晶體(3)的另一端通過鍵合技術鍵合上被動調Q晶
【摘要】 一種掃描電鏡中單根納米線原位力學綜合性能測試裝置及方法，屬于納米材料性能原位檢測領域。該發明通過設計粗調位移平臺、壓電陶瓷拉伸單元和微懸臂梁力學檢測系統，實現對納米線的彈性，塑性和斷裂過程的力學性能定量測量，也可以對納米線進行電學性能測量。利用掃描電子顯微鏡成像系統原位實時記錄納米線在力場和電場作用下彈塑性變形過程、斷裂失效的方式以及電荷傳輸特性，將納米線的力學性能，電學性能，力學和電學耦合性能以及微觀結構變化直接對應起來，從納米尺度上揭 示一維納米線的綜合性能。本發明結構簡單，便于操作，應用范圍廣，具有直觀性和定量檢測的特性，便于解釋和發現納米材料優異的力學等綜合性能。 【專利類型】發明申請 【申請人】北京工業大學 【申請人類型】學校 【申請人地址】100022北京市朝陽區平樂園100號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】朝陽區 【申請號】CN200610169838.9 【申請日】2006-12-29 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1995962A 【公開公告日】2007-07-11 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】G01N3/08; G01N13/10 【發明人】韓曉東; 張躍飛; 張澤 【主權項內容】1、一種掃描電鏡中單根納米線原位力學綜合性能測試裝置，其 特征在于：在帶有定位孔(13)的底座(15)上固定一微懸臂梁固定 座(12)，微懸臂梁(11)一端與微懸臂梁固定座(12)連接，一套 位置粗調機構設置在底座(15)上，該粗調機構的中心線與微懸臂梁 (11)的中心線成90°夾角； 所述的粗調機構包括固定在底座(15)上的粗調底盤(14)， 粗調底盤(14)上面連接粗調位移平臺(5)，位移平臺(5)的上面 與緊固螺釘(3)連接，位移平臺(5)的一端與調節螺桿(4)連接， 另一端與壓電陶瓷(2)連接，壓電陶瓷(2)與樣品固定平臺(6) 的一端連接； 還包括激光器(8)以及位置監測器(10)，位置監測器(10)與 載荷輸出單元(9)連接；壓電陶瓷驅動電源(16)與壓電陶瓷(2) 連接。 【當前權利人】北京工業大學 【當前專利權人地址】北京市朝陽區平樂園100號 【專利權人類型】公立 【統一社會信用代碼】12110000400687411U 【被引證次數】24 【被自引次數】4.0 【被他引次數】20.0 【家族被引證次數】24
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