【摘要】公開了一種探測器陣列，包括：第一線陣探測器，用于探測穿透被檢物體的至少一個部分的第一射線；第二線陣探測器，與所述第一線陣探測器平行設(shè)置，用于探測與所述第一射線交替發(fā)射并穿透所述至少一個部分的第二射線。利用所述探測器陣列，能夠提高交替
【摘要】 1.組件1的右視圖與左視圖對稱，省略其右視圖，組件1的底面無設(shè)計要點， 省略其仰視圖。 2.組件2的右視圖與左視圖對稱，省略其右視圖，組件2的底面無設(shè)計要點， 省略其仰視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】王濱江 【申請人類型】個人 【申請人地址】100026北京市昌平區(qū)百善鎮(zhèn)上東廊村工業(yè)園北京百善歐馬家具公司 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區(qū)縣】昌平區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630001831.7 【申請日】2006-01-26 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3658784D 【公開公告日】2007-06-20 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN3658784D 【授權(quán)公告日】2007-06-20 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】王濱江 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】王濱江 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】北京市昌平區(qū)百善鎮(zhèn)上東廊村工業(yè)園北京百善歐馬家具公司
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