【摘要】溝槽軌道型自動震動送料機，用于螺絲批頭、螺絲、螺母等工件的半成品定向倒角選別，屬于機械制造領域。現有結構不能使半成品工件穩定地沿送料軌道逐個進行選別，選別率低，準確率低。本實用新型包括震動裝置和與其配合的送料盤，所述的送料盤內側設有
【摘要】 本發明是有關于一種晶片承載盤的檢測方法，其包括：一承載臺下方設置有一光源，一檢測治具設置于該承載臺上，該檢測治具具有一X軸固定邊及一Y軸固定邊，一晶片承載盤是定位于承載臺上，并使晶片承載盤的一第一側邊貼觸檢測治具的X軸固定邊，該第二側邊是貼觸于檢測治具的Y軸固定邊，由該承載臺上方檢測該光源通過晶片承載盤的第一側邊與X軸固定邊的間隙以及該光源通過第二側邊與Y軸固定邊的間隙有否露出光線，而可快速檢測并管控該晶片承載盤的垂直度。本發明適用于檢測一晶片承載盤的垂直度，并且能夠快速檢出并管控該晶片承載盤的垂直度，而可有效確保該晶片承載盤的品質符合需求，并且具有降低生產成本及提高產能的功效。 【專利類型】發明申請 【申請人】南茂科技股份有限公司; 百慕達南茂科技股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】中國臺灣新竹 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610066936.X 【申請日】2006-03-30 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101046372A 【公開公告日】2007-10-03 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】G01B11/26; G01R31/00; H01L21/66 【發明人】盧一成 【主權項內容】1、一種晶片承載盤的檢測方法，其特征在于其包括以下步驟： 提供一承載臺，該承載臺的下方是設置有一光源； 設置一檢測治具于該承載臺上，該檢測治具是具有一X軸固定邊及一Y 軸固定邊； 定位一晶片承載盤于該承載臺上，該晶片承載盤是具有一第一側邊及 一第二側邊，該第一側邊是貼觸于該檢測治具的該X軸固定邊，且該第二 側邊是貼觸于該檢測治具的該Y軸固定邊；以及 由該承載臺的上方檢測該晶片承載盤的該第一側邊與該X軸固定邊的 間隙以及該第二側邊與該Y軸固定邊的間隙有否露出光線。 【當前權利人】南茂科技股份有限公司; 百慕達南茂科技股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣新竹; 百慕大漢米頓 【被引證次數】5 【被他引次數】5.0 【家族被引證次數】5
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