【摘要】本發(fā)明提供一種集成電路測試裝置以及方法以及測試裝置的制造方法，涉及在目標(biāo)電子應(yīng)用上測試集成電路的裝置與方法，裝置包括用以接受集成電路的插座、仿造目標(biāo)電子應(yīng)用的改裝過的商用電子產(chǎn)品，以及在插座與改裝過的商用電子產(chǎn)品之間的電性連接。測試
【專利類型】外觀設(shè)計(jì) 【申請人】趙國志; 陳嘉濱 【申請人類型】個(gè)人 【申請人地址】中國臺灣 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請?zhí)枴緾N200630007880.1 【申請日】2006-03-21 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3626054D 【公開公告日】2007-03-28 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN3626054D 【授權(quán)公告日】2007-03-28 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】趙國志; 陳嘉濱 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】趙國志; 陳嘉濱 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】中國臺灣;
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