【摘要】一種集成電路工藝的數據分析方法,適用分析多個產品的測試結果,這些產品至少經過一線上質量測試、一產品測試與一良率測試。此方法是依照線上質量測試的結果,將這些產品劃分為一正常群組與一異常群組,并依照良率測試的結果將這些產品劃分為一合格群
【摘要】 后視圖與主視圖對稱,左視圖與右視圖對稱,省略后視圖、左視圖。。: 【專利類型】外觀設計 【申請人】張藤耀 【申請人類型】個人 【申請人地址】臺灣省臺中縣大雅鄉鳳鳴路12-2號 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200630032999.4 【申請日】2006-01-13 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3602870D 【公開公告日】2007-01-24 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN3602870D 【授權公告日】2007-01-24 【授權公告年份】2007.0 【發明人】張藤耀 【主權項內容】無 【當前權利人】林玟妤
未經允許不得轉載:http://m.mhvdw.cn/1776793007.html
喜歡就贊一下






