【摘要】本發明提供一種自動曝光測量方法用以決定具有主體的圖像的曝光值。本發明方法包括主體檢測步驟以及曝光值計算步驟。主體檢測步驟包括使用焦距值以檢測圖像的主體位置。曝光值計算步驟包括使用自動曝光計算函數計算圖像的曝光值。本發明可提供較簡單及
【摘要】 本發明揭示一種在例如DVD盤片的記錄媒體中處理缺陷的方法和裝置。本發明利用缺陷處理表列以減少讀寫頭在盤片的用戶數據區獲取缺陷糾錯塊(ECC block)的替換糾錯塊時的搜尋時間。該缺陷處理表列用于顯示存取缺陷塊的替換塊的位置。由于缺陷處理表列僅儲存缺陷塊和替換塊的相關信息而不是缺陷塊和替換塊本身，其僅需要較小的內存空間。本發明還提供一種管理缺陷處理表列內容的缺陷處理表列管理單元。 【專利類型】發明申請 【申請人】聯發科技股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】中國臺灣新竹科學工業園區新竹市篤行一路一號 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610159802.2 【申請日】2006-09-22 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101064155A 【公開公告日】2007-10-31 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】G11B20/10; G11B20/18; G11B7/00 【發明人】江俊穎; 翁益馨 【主權項內容】1.一種光盤缺陷管理方法，其包括如下步驟： 當發現缺陷時將缺陷相關信息添加到缺陷處理表列中；以及 根據添加到缺陷處理表列中的缺陷相關信息處理缺陷，該缺陷處理表 列中有若干條目，每一條目包含一個缺陷的相關信息。 微信 【當前權利人】聯發科技股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣新竹科學工業園區新竹市篤行一路一號 【被引證次數】1 【被他引次數】1.0 【家族引證次數】6.0 【家族被引證次數】8
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