【摘要】本發明提供一種指令摺疊機制及其方法以及使用該摺疊機制及該方法之像素處理系統。像素處理系統包括指令摺疊機制及像素著色器，指令摺疊機制摺疊第一程序中若干個第一指令，以產生具有第二指令的第二程序。像素著色擷取第二指令并且作譯碼。指令摺疊機
【摘要】 本發明是一種濃度偵測裝置，是用以偵測一容器內的液態燃料的濃度，該濃度偵測裝置包括：一浮體，是載浮于該液態燃料的液面上，其中該浮體的上半部具有一第一參考圓的圖形，且該浮體在該液態燃料的液面上恰形成一第一交界圓的圖形；一影像擷取裝置，具有一成像平面，其中該成像平面是設置于該浮體的上方；一遮光罩，其中該遮光罩是設置于該成像平面與該浮體之間，以及該遮光罩設有一孔洞，以使得該第一參考圓及該第一交界圓的圖形藉由該孔洞而分別投影至該成像平面上，以形成一第二參考圓及一第二交界圓；一計算裝置，是可依據該第一、二參考圓及該第一、二交界圓的資料而計算出該液態燃料的濃度。 ： 【專利類型】發明申請 【申請人】勝光科技股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】臺灣省臺北市瑞光路407號5樓 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610072095.3 【申請日】2006-04-10 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101055239A 【公開公告日】2007-10-17 【公開公告年份】2007 【發明人】鐘雅健; 陳逸先; 鄧豐毅; 湯毓麟 【主權項內容】1.一種用于液態燃料電池的液態燃料濃度偵測方法，包括下列步驟： (a)提供一半徑為R的浮體，其中該浮體的上半部具有一第一參考圓的 圖形，且該第一參考圓的半徑為r，以及該第一參考圓上的一點、該浮體的 質心與該第一參考圓的圓心三者所形成的夾角為α1； (b)使得該浮體載浮于該液態燃料的液面上，且使得該第一參考圓能夠 維持在該液態燃料的液面上方，其中該浮體在該液態燃料的液面上恰形成一 第一交界圓的圖形； (c)提供一成像平面，其中該成像平面是設置于該步驟(a)的該浮體的上 方； (d)提供一遮光罩，其中該遮光罩是設置于該成像平面與該浮體的間， 以及該遮光罩設有一孔洞且該孔洞與該成像平面之間的垂直距離為f，以使 得該第一參考圓及該第一交界圓的圖形通過該孔洞而分別投影至該成像平 面上，以形成一第二參考圓及一第二交界圓，其中該第二參考圓上的點坐標 (u，v)以及該第二交界圓上的點坐標(x，y)的各坐標變量是分別滿足下列等式： u＝(S·cosθ·cosψ-R·cosα1·sinθ·cosψ+R·sinα1·cos(β+ψ))·(-f)/(-S·sinθ-R·cosα1·cos θ+R·cosα1-F)， v＝(S·cosθ·sinψ-R·cosα1·sinθ·sinψ+R·sinα1·sin(β+ψ))·(-f)/(-S·sinθ-R·cosα1·cosθ +R·cosα1-F)， x＝(S·cosθ·cosψ-R·cosα·sinθ·cosψ+R·sinα·cos(β+ψ))·(-f)/(-S·sinθ-R·cosα·cosθ+ R·cosα-F)， y＝(S·cosθ·sinψ-R·cosα·sinθ·sinψ+R·sinα·sin(β+ψ))·(-f)/(-S·sinθ-R·cosα·cosθ+R· cosα-F)， 其中，S是該浮體在該液態燃料的液面上的移動距離，θ是該浮體在該液態燃 料的液面上的偏轉角度，ψ是該成像平面與該液態燃料的液面二者之間的夾 角，β是該第一參考圓上的一點相對于其圓心的相量角或該第一交界圓的一點 相對于其圓心的相量角，F是該孔洞與該液態燃料的液面之間的垂直距離，α 是該第一交界圓上的一點、該浮體的質心與該第一交界圓的圓心三者所形成 的夾角； (e)提供一計算裝置，且使得該計算裝置依據該第一參考圓及該第二參考 圓的資料而計算出θ值、S值、F值； (f)決定一β值，且使得該計算裝置依據該β值而計算出該第二參考圓上 對應該β值的一點的u坐標值與v坐標值，以及該第二交界圓上對應該β值 的一點的x坐標值與y坐標值； (g)使得該計算裝置依據該步驟(d)中的坐標變量u及/或坐標變量v的等 式，以及該步驟(e)的θ值、S值與F值，以及該步驟(f)的β值、u坐標值與 v坐標值，而計算出ψ值； (h)使得該計算裝置依據該步驟(d)中的坐標變量x及/或坐標變量y的等 式，以及該步驟(e)的θ值、S值與F值，以及該步驟(f)的β值、x坐標值與 y坐標值，以及該步驟(g)的ψ值，而計算出α值； (i)使得該計算裝置依據該步驟(h)的α值及一函式h＝R-R·cosα，而計 算出h值，其中h值是該浮體浮出該液態燃料的液面的高度； (j)使得該計算裝置依據該步驟(i)的h值及一函式ρ＝M/(V- [π·h2(3·R-h)/3])，而計算出ρ值，其中ρ值是該液態燃料的濃度，M是該 浮體的質量，V是該浮體的體積。 【當前權利人】勝光科技股份有限公司 【當前專利權人地址】臺灣省臺北市瑞光路407號5樓
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