【摘要】本發明涉及一種對周期信號檢測的方法和適配裝置，尤其對于周期信號中同時存在強信號與弱信號的檢測。特別涉及TDD系統中對發射開功率、關功率進行檢測的方法和裝置。該裝置包括：切換信號產生裝置，根據外部輸入的同步信號，確定輸入信號中強信號與
【摘要】 本發明提供了一種基于納米銀顆粒摻雜的ZnO薄膜制作的探測器，包括：一基底，在基底上生長一層納米銀顆粒摻雜的ZnO薄膜，其特征在于，還包括尺寸大小為納米量級的銀顆粒，該銀顆粒鑲嵌在ZnO膜上；其中ZnO膜厚度在10納米～10微米；銀顆粒尺寸在1～200納米；第一電極和第 二電極設置在ZnO膜上，第一電極引線和第二電極引線連接在電極上，并且在兩個電極引線之間并聯一電阻，兩個電極引線的末端連接電壓測試設備。該探測器在波長800nm－100μ光照射下可以獲得25－100毫伏以上的直接光生伏特信號。 【專利類型】發明申請 【申請人】中國科學院物理研究所 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】100080北京市海淀區中關村南三街8號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610001811.9 【申請日】2006-01-20 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101005104A 【公開公告日】2007-07-25 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100505329C 【授權公告日】2009-06-24 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】H01L31/09; H01L31/0232; H01L31/18 【發明人】趙嵩卿; 周岳亮; 趙昆; 王淑芳; 劉震; 韓鵬; 金奎娟; 陳正豪; 呂惠賓; 程波林; 何萌; 楊國楨 【主權項內容】1.一種探測波長在紅外至遠遠紅外光的探測器，包括：一基底(8)，在基 底(8)上生長一層ZnO薄膜層(1)；其特征在于，所述的ZnO薄膜層(1)為 納米銀顆粒摻雜的ZnO層，ZnO薄膜層(1)厚度在10納米～10微米；其中ZnO 薄膜層(1)內銀顆粒的尺寸在1～100納米，納米尺寸的銀顆粒與ZnO為Zn和 Ag的原子比為：5∶1～100∶1；第一電極(2)和第二電極(3)設置在納米銀顆粒 摻雜的ZnO薄膜層上，第一電極引線(5)和第二電極引線(4)分別連接在第 一電極(2)和第二電極(3)上，并且在兩個電極引線之間并聯一電阻(6)，兩 個電極輸出端連接放大電路或電壓測試設備(9)。 【當前權利人】中國科學院物理研究所 【當前專利權人地址】北京市海淀區中關村南三街8號 【統一社會信用代碼】12100000400012174C 【被引證次數】4 【被他引次數】4.0 【家族引證次數】3.0 【家族被引證次數】4
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