【摘要】本實(shí)用新型提供一種用于盤裝儀表或控制器的 固定件，所述固定件具有一與盤裝儀表或控制器表體外側(cè)相接 觸的接觸面，所述接觸面上設(shè)置有用以導(dǎo)向和定位的槽或榫結(jié) 構(gòu)，所述固定件上設(shè)置有卡持體，其特征在于：所述接 觸面為圓弧曲面。本實(shí)用新型還
【摘要】 一種磁電材料的磁電系數(shù)測(cè)試儀及測(cè)試方法，涉及材料的性能測(cè)試領(lǐng)域。該測(cè)試儀包括直流磁場(chǎng)發(fā)生裝置、交流磁場(chǎng)發(fā)生裝置、信號(hào)采集裝置、角度控制裝置和含有控制軟件的計(jì)算機(jī)；并提供了一種磁電材料磁電系數(shù)的測(cè)試方法。本發(fā)明不僅能測(cè)量磁電系數(shù)的幅值，還能夠測(cè)得磁電系數(shù)的相位，是一套完備的磁電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，它包含了角度θ、直流磁場(chǎng)HDC、交流磁場(chǎng)Hac、頻率f四種測(cè)試變化因素，可以由計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試磁電系數(shù)的頻譜，節(jié)約了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試的勞動(dòng)強(qiáng)度。含有的電荷放大器，消除了引線電容等外部電容的影響。角度控制裝置可以測(cè)量在0°～360°范圍內(nèi)任意角度下的磁電系數(shù)。 【專利類型】發(fā)明申請(qǐng) 【申請(qǐng)人】清華大學(xué) 【申請(qǐng)人類型】學(xué)校 【申請(qǐng)人地址】100084北京市100084信箱82分箱清華大學(xué)專利辦公室 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國(guó) 【申請(qǐng)人城市】北京市 【申請(qǐng)人區(qū)縣】海淀區(qū) 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200610165250.6 【申請(qǐng)日】2006-12-15 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN1975454A 【公開公告日】2007-06-06 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN1975454B 【授權(quán)公告日】2010-05-19 【授權(quán)公告年份】2010.0 【發(fā)明人】施展; 南策文; 蔡寧; 翟俊宜; 馬靜 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】1.一種磁電材料的磁電系數(shù)測(cè)試儀，包括直流磁場(chǎng)發(fā)生裝置和交流磁場(chǎng)發(fā)生裝置；所述 直流磁場(chǎng)發(fā)生裝置含有電磁鐵(1)、直流電源(2)和特斯拉計(jì)(3)；所述的交流磁場(chǎng)發(fā)生裝 置含有亥姆赫茲線圈(4)和函數(shù)信號(hào)發(fā)生器(5)；其特征在于：該測(cè)試儀還包括信號(hào)采集裝 置，所述的信號(hào)采集裝置包括電荷放大器(6)、示波器(7)和采樣電阻(8)，所述的電荷放 大器的輸入端通過(guò)引線與待測(cè)樣品相連；電荷放大器的輸出端接入示波器的一個(gè)通道，所述 的采樣電阻串聯(lián)到亥姆赫茲線圈與函數(shù)信號(hào)發(fā)生器的回路中，并接入示波器的另一個(gè)通道。 【當(dāng)前權(quán)利人】清華大學(xué) 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】北京市100084信箱82分箱清華大學(xué)專利辦公室 【專利權(quán)人類型】公立 【統(tǒng)一社會(huì)信用代碼】12100000400000624D 【被引證次數(shù)】TRUE 【家族被引證次數(shù)】TRUE
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