【摘要】1.后視圖、仰視圖無設計要點，省略后視圖、仰視圖。 2.本外觀設計產品用高分子反光金屬面紙和環保高密度板制成。 3.請求保護的外觀設計包含色彩。。 【專利類型】外觀設計【申請人】劉慶十【申請人類型】個人【申請人地址】100089北京
【摘要】 一種非接觸連續測量超導線/帶材n指數均勻性的方法和裝置，其特征在于在平行帶面的交流場形及小于待測區域完全穿透場的前提下，將超導線/帶材置于交流背場磁場中，測量探測線圈[2－2’]和補償線圈[3－3’]兩者感應電壓之差為磁滯損耗電壓分量U″rms，測量不同交流背場下的損耗電壓，根據損耗電壓與交變磁場的冪指數擬合關系，得到該段超導線/帶材的n值指數。應用本發明方法的測量裝置，包括交流背場磁體，探測線圈和補償線圈，步進電機[4]，收線盤[5]，放線盤[6]，放線定滑輪[7]，收線定滑輪[8]，低溫冷卻介質[9]，低溫容器[10]，數字電壓表[11]，交變背場磁體電源[12]，控制、數據采集及處理系統[13]。本發明可連續測量任何長度的實用超導線/帶材局部的n指數及其分布。 【專利類型】發明申請 【申請人】中國科學院電工研究所 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】100080北京市海淀區中關村北二條6號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610114358.2 【申請日】2006-11-08 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1963477A 【公開公告日】2007-05-16 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN1963477B 【授權公告日】2011-03-30 【授權公告年份】2011.0 【IPC分類號】G01N27/00; G01R29/00 【發明人】王銀順; 惠東; 戴少濤; 肖立業; 林良真 【主權項內容】1、一種非接觸連續測量超導線/帶材n指數均勻性的方法，其特征在于將超導線/帶材 置于交流背場磁場[1-1’]中，測量探測線圈[2-2’]和補償線圈[2-2’]兩者感應電壓之差為 磁滯損耗電壓分量U″rms，對交流背場磁體提供不同電流，得到不同的交變磁場，從而得到不 同的損耗電壓分量，根據損耗電壓分量與交變磁場振幅的冪指數擬合關系，最后得到該段超 導線/帶材的n值指數。 【當前權利人】中國科學院電工研究所 【當前專利權人地址】北京市海淀區中關村北二條6號 【統一社會信用代碼】121000004000124147 【被引證次數】8 【被自引次數】4.0 【被他引次數】4.0 【家族引證次數】5.0 【家族被引證次數】8
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