【摘要】本實用新型屬于航空儀表制造技術，涉及對陀螺 馬達的改進。它由輪緣1、磁軛2、定子繞組3、馬達端蓋4、 定子鐵心5、定子襯套6、軸承襯套7、軸承8和馬達軸9組成， 其特征在于，定子襯套6與馬達軸9的中段的過盈結合面的軸 向長度是2～6
【摘要】 一種掃描式PI參數自尋優控制器，PI參數自尋 優模塊進行PI參數尋優過程如下：首先，采樣周期設定子模 塊通過數模轉換器給被控對象一個階躍信號，測出系統的階躍 響應曲線。然后根據階躍響應曲線自動尋找 Td，再計算出采樣周期 Ts；PI參數掃描范圍設定子模塊 確定被控系統的穩態增益的倒數A及PI參數的掃描范圍；PI 參數性能掃描子模塊分別對N×N組 (Kp， Ki)參數中的每組參數作處理；滿 意度映射及價格函數子模塊根據用戶事先設定的規則，計算出 上升時間RT的滿意度，并根據用戶事先設計的價格函數形式， 計算出價格函數CostFC；基于層截面顆粒度分析的PI參數選 優子模塊，找出面積最大的顆粒的中心對應的 (Kp， Ki)作為PI參數尋優的結果。 【專利類型】發明申請 【申請人】中國科學院電工研究所 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】100080北京市海淀區中關村北二條6號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610113550.X 【申請日】2006-09-30 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1945468A 【公開公告日】2007-04-11 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN1945468B 【授權公告日】2010-12-08 【授權公告年份】2010.0 【IPC分類號】G05B11/42; G05B13/02 【發明人】李敏; 韓立 【主權項內容】1、一種掃描式PI參數自尋優控制器，其特征在于包括PI參數自尋優模塊和PI控制器 模塊；PI參數自尋優模塊包含按任務執行的先后順序串行連接的5個子模塊，依次是采樣周 期設定子模塊、PI參數掃描范圍設定子模塊、PI參數性能掃描子模塊、滿意度映射及價格函 數子模塊以及基于層截面顆粒度分析的PI參數選優子模塊；各個模塊之間的數據傳遞采用 控制主機的共享內存的方式實現；各個模塊的預設電壓與反饋電壓之間的誤差信號經過模數 轉換器采樣作為輸入，利用工控機的處理器對采用信號作相應的存儲和處理，需要輸出時把 相應的數字結果通過數模轉換器輸出，以控制被控對象的動作行為；各個子模塊共享數據輸 入輸出端口以及控制信號，其功能劃分和執行由工控機中的固件程序決定； PI參數自尋優模塊和PI控制器模塊在閉環上的連接通過軟開關來切換：系統正常工作 前，開關打向PI參數自尋優模塊，由PI參數自尋優模塊進行PI參數尋優，并將選優的結果 Kp和Ki傳遞給PI控制器模塊；系統正常工作時，開關打向PI控制模塊，由PI控制模塊執 行控制功能：在閉環情況下，每隔一個Ts的時間啟動模數轉換器對誤差信號Error采樣一次， 并計算出一個控制量通過數模轉換器輸出到被控系統； PI參數自尋優模塊進行PI參數尋優過程如下述： 首先，在系統開環的情況下，采樣周期設定子模塊通過數模轉換器給被控對象一個階躍 信號，通過模數轉換器不間斷地讀取Error信號，即測出系統的階躍響應曲線，然后，根據 階躍響應曲線自動尋找Td，再計算出采樣周期Ts；PI參數掃描范圍設定子模塊確定被控系 統的穩態增益的倒數A及PI參數的掃描范圍；PI參數性能掃描子模塊分別對N×N組(Kp， Ki)參數中的每組參數作處理；滿意度映射及價格函數子模塊根據用戶事先設定的規則，計 算出上升時間RT的滿意度，并根據用戶事先設計的價格函數形式，計算出價格函數CostFC； 基于層截面顆粒度分析的PI參數選優子模塊首先將價格函數曲面歸一化到0～1之間，然后 用一系列的Z平面去截取價格函數曲面，價格函數曲面在截面之上的位置標記為1，在截面 之下的位置標記為0，得到一幅二值的黑白圖像，然后對得到的黑白圖像作數學形態學操作， 以消去圖像中的白色小顆粒以及大顆粒之間的線狀連接，最后對處理過的黑白圖像作顆粒分 析，找出面積最大的顆粒的中心對應的Kp，Ki作為PI參數尋優的結果。 【當前權利人】中國科學院電工研究所 【當前專利權人地址】北京市海淀區中關村北二條6號 【統一社會信用代碼】121000004000124147 【引證次數】2.0 【被引證次數】8 【他引次數】2.0 【被他引次數】8.0 【家族引證次數】8.0 【家族被引證次數】8
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