【摘要】本發(fā)明屬于射頻識別技術的測試領域,具體地說,涉及一種物體表面粘貼電子標簽及包裝材料選擇的測試方法。包括步驟:a)使用實時頻譜分析儀測量物體表面標簽的返回信號強度;b)測試電子標簽靜態(tài)下的讀寫距離參數;c)測試電子標簽動態(tài)下的讀寫距離
【專利類型】外觀設計 【申請人】金春花 【申請人類型】個人 【申請人地址】100024北京市朝陽區(qū)管莊京通苑8號樓503室 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區(qū)縣】朝陽區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630124569.5 【申請日】2006-07-07 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3639869D 【公開公告日】2007-05-02 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN3639869D 【授權公告日】2007-05-02 【授權公告年份】2007.0 【發(fā)明人】西姆·奧帝諾 【主權項內容】無 【當前權利人】金春花 【當前專利權人地址】北京市朝陽區(qū)管莊京通苑8號樓503室
未經允許不得轉載:http://m.mhvdw.cn/1776063535.html
喜歡就贊一下






