【摘要】一種平面核磁共振微線圈微檢測器，由平面核磁 共振微線圈[1]和微流道結(jié)構(gòu)[2]組成，采用一體式設(shè)計，平面核 磁共振微線圈[1]加工在聚酰亞胺基片[3]表面，微流道結(jié)構(gòu)[2] 為長方體結(jié)構(gòu)，加工在聚酰亞胺基片[3]的另一面，由一聚酰亞
【摘要】 1.本外觀設(shè)計為平面產(chǎn)品，省略其他視圖。 2.請求保護的外觀設(shè)計包含色彩。 百度搜索馬 克 數(shù) 據(jù) 網(wǎng) 【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】上好佳(中國)有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】201702上海市滬青平路2277號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區(qū)縣】青浦區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630044827.9 【申請日】2006-11-10 【申請年份】2006 【公開公告號】CN300691326D 【公開公告日】2007-09-19 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN300691326D 【授權(quán)公告日】2007-09-19 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】施仁美 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當前權(quán)利人】上好佳(中國)有限公司 【當前專利權(quán)人地址】上海市滬青平路2277號 【專利權(quán)人類型】港、澳、臺 【統(tǒng)一社會信用代碼】9131000060742052XD
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