【摘要】本實用新型涉及高壓真空斷路器測試治具，該治具包括供電設備、橋式電路、繼電器、轉換開關(S1、S3)、選擇開關(S2、S4)、電源開關(S6)、接負載開關(S5)、負載。與現有技術相比，本實用新型將供電設備封閉在一個盒子中，并根據轉換
【摘要】 本發明涉及一種玻璃缺陷的光學檢測裝置，利用 激光束經柱面鏡擴展成面光束，從被檢玻璃厚度側面入射玻 璃，玻璃中或玻璃表面的缺陷諸如氣泡、劃痕等成為散射體， 攝像頭在計算機控制下對放置在載物平臺上的被檢玻璃進行 正面拍攝，得到清晰的缺陷圖像由計算機圖像處理及識別軟件 進行判別，給出缺陷標記和提示。若在所述激光器和柱面鏡之 間增加由轉鏡及f－θ透鏡構成的光學掃描機構，激光束先變 換成沿柱面鏡軸線方向的掃描光束，再經柱面鏡展開成面光束 射入玻璃，則可進行缺陷深度位置的檢測。本發明裝置簡單， 容易實現，尤其適用于壓花玻璃的缺陷檢測，還適用于對其它 透明材料，如塑料、陶瓷、薄膜及晶體等進行內部缺陷檢測。 關注公眾號馬 克 數 據 網 【專利類型】發明申請 【申請人】上海交通大學 【申請人類型】學校 【申請人地址】200240上海市閔行區東川路800號 【申請人地區】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區縣】閔行區 【申請號】CN200610030337.2 【申請日】2006-08-24 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1908638A 【公開公告日】2007-02-07 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】G01N21/958; G01N21/88 【發明人】黃梅珍; 丁海峰; 李振慶; 倪一; 李偉; 門帥 【主權項內容】1、一種玻璃缺陷的光學檢測裝置，其特征在于包括激光器(1)、柱面鏡(2)、 載物平臺(11)、遮光罩(12)、攝像頭(6)，計算機(7)和圖像處理及識別軟 件(8)，載物平臺(11)上放置被檢玻璃(3)，攝像頭(6)位于載物平臺(11) 的上方，遮光罩(12)連接著被檢玻璃區域四周與攝像頭(6)，攝像頭(6)與 計算機(7)相連，計算機(7)內置攝像控制和圖像處理及識別軟件(8)，激 光器(1)和柱面鏡(2)位于被檢玻璃(3)的厚度一側，激光束經過柱面鏡(2) 擴展成的面光束與被檢玻璃(3)的表面平行，從被檢玻璃(3)的厚度側面入 射玻璃，攝像頭(6)在計算機(7)控制下對玻璃正面進行拍攝，拍攝所獲得 的缺陷的圖像由計算機(7)采集并由圖像處理及識別軟件(8)進行判別，給 出缺陷標記和提示。 【當前權利人】上海交通大學 【當前專利權人地址】上海市閔行區東川路800號 【統一社會信用代碼】1210000042500615X0 【被引證次數】51 【被他引次數】51.0 【家族被引證次數】51
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