【摘要】后視圖無設計要點，省略后視圖。【專利類型】外觀設計【申請人】上海金絲猴食品有限公司【申請人類型】企業(yè)【申請人地址】201317上海市南匯區(qū)滬南路5100號【申請人地區(qū)】中國【申請人城市】上海市【申請人區(qū)縣】浦東新區(qū)【申請?zhí)枴緾N20
【摘要】 本發(fā)明提供了一種測量腐蝕體系極化電阻的方法，其特征在于對電極進行小幅值線性極化掃描，通過測量腐蝕電位處的電流微分值來求得極化電阻。本發(fā)明還提供了一種實施上述測量方法用的微分極化電阻測試儀，它由(I)線性電位掃描信號電路；(II)恒電位電路；(III)微分電路；(IV)濾波放大電路；(V)微分電流采樣保持電路；(VI)腐蝕電位跟蹤保持電路所組成。本發(fā)明所提供的微分極化電阻測量方法和測試儀克服了現(xiàn)行線性極化測量技術的缺點，而且還可以提高測量速度。 【專利類型】發(fā)明授權 【申請人】中國科學院金屬腐蝕與防護研究所 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】遼寧省沈陽市文化路二段六號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】沈陽市 【申請人區(qū)縣】沈河區(qū) 【申請?zhí)枴緾N86105493.8 【申請日】1986-08-20 【申請年份】1986 【公開公告號】CN1011545B 【公開公告日】1991-02-06 【公開公告年份】1991 【授權公告號】CN1011545B 【授權公告日】1991-02-06 【授權公告年份】1991.0 【IPC分類號】G01N17/00; G01N27/02; G01N27/00 【發(fā)明人】曹楚南; 王友; 宋詩哲 【主權項內容】1.一種測量腐蝕體系極化電阻的方法，其特 征在于對電極進行小幅值線性電位極化掃描，通過 測量在腐蝕電位處的電流微分值來求得極化電阻。 【當前權利人】中國科學院金屬腐蝕與防護研究所 【當前專利權人地址】遼寧省沈陽市文化路二段六號 【專利權人類型】國有經營單位(非法人) 【被引證次數(shù)】1.0 【被他引次數(shù)】1.0 【家族被引證次數(shù)】6.0
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