【摘要】一種內嵌式測試裝置及方法與內建于晶片切割線區間之測試裝置，用以測試在晶片上至少一個集成電路以及轉換晶片中多個集成電路之輸出為數字碼。內嵌式測試裝置包括數字器以及測試平臺，而內建于晶片切割線區間之測試裝置則包括數字器。數字器設置于晶片
【摘要】 本發明提供一種數據傳輸的集成電路連接結構 及方法。根據本發明，該集成電路連接結構包含：多個集成電 路通過多條傳輸線連接用以傳輸數據，該結構還包含一錯開裝 置，用以使多條傳輸線異步傳遞數據。錯開裝置通 過使各傳輸線的延遲時間有所差異，從而避免整體結構中的瞬 間電流過大。 【專利類型】發明申請 【申請人】友達光電股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】臺灣省新竹市 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610147039.1 【申請日】2006-11-13 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1945686A 【公開公告日】2007-04-11 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN1945686B 【授權公告日】2010-07-28 【授權公告年份】2010.0 【IPC分類號】G09G3/36; G09G3/20; G02F1/133; G02F1/13 【發明人】許勝凱 【主權項內容】1.一種集成電路連接結構，其特征在于，所述結構包含有： 多個集成電路； 連接所述集成電路的多條傳輸線用以傳輸數據；以及 錯開裝置，用以使所述多條傳輸線異步傳遞數據。 【當前權利人】友達光電股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣新竹市 【家族引證次數】4.0
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