【摘要】本發(fā)明是一種IC檢測機，其包括第一置料裝置，是以容納至少一盛裝待測IC的料盤，一移料裝置，是將第一置料裝置處的待測IC分別取放在第一、二載送裝置上，第一、二載送裝置再將待測IC移載到測試裝置處，所述的測試裝置是在第一、二載送裝置的后
【摘要】 一種半導體裝置，設置在第一導電類型基底上， 其具有柵極、第二導電類型漏極區(qū)、第二導電類型源極區(qū)和第 二導電類型第一輕摻雜區(qū)。柵極設置在第一導電類型基底上。 第二導電類型漏極區(qū)與第二導電類型源極區(qū)設置在柵極的兩 側(cè)的第一導電類型基底中。第二導電類型第一輕摻雜區(qū)設置在 柵極與第二導電類型源極區(qū)之間的第一導電類型基底中。 【專利類型】發(fā)明申請 【申請人】力旺電子股份有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】中國臺灣新竹市 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請?zhí)枴緾N200610121682.7 【申請日】2006-08-28 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1967871A 【公開公告日】2007-05-23 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】H01L29/78; H01L21/336 【發(fā)明人】王世辰; 陳信銘; 盧俊宏; 何明洲; 沈士杰; 徐清祥 【主權(quán)項內(nèi)容】1.一種半導體裝置，包括： 柵極，設置在第一導電類型基底上， 第二導電類型漏極區(qū)與第二導電類型源極區(qū)，設置在該柵極兩側(cè)的該第 一導電類型基底中；和 第二導電類型第一輕摻雜區(qū)，設置在該柵極與該第二導電類型源極區(qū)之 間。 【當前權(quán)利人】力旺電子股份有限公司 【當前專利權(quán)人地址】中國臺灣新竹市 【被引證次數(shù)】3 【被他引次數(shù)】3.0 【家族引證次數(shù)】41.0 【家族被引證次數(shù)】41
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