【摘要】一種集成電路測試卡,包含:一電路板,多數個接觸焊點;一探針組件,一電訊轉接板及多數個探針,該電訊轉接板界定出電氣導通的一第一電訊面及一與之相背的第二電訊面,各探針電氣導通于第一電訊面上,第二電訊面與接觸焊點電氣導通;至少一轉向固定組
【專利類型】外觀設計 【申請人】張益郡 【申請人類型】個人 【申請人地址】中國臺灣 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200630101205.5 【申請日】2006-06-08 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3654733D 【公開公告日】2007-06-06 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN3654733D 【授權公告日】2007-06-06 【授權公告年份】2007.0 【發明人】張益郡 【主權項內容】無 【當前權利人】張益郡 【當前專利權人地址】中國臺灣
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