【摘要】本實用新型提供一種用于盤裝儀表或控制器的 固定件，所述固定件具有一與盤裝儀表或控制器表體外側(cè)相接 觸的接觸面，所述接觸面上設(shè)置有用以導(dǎo)向和定位的槽或榫結(jié) 構(gòu)，所述固定件上設(shè)置有卡持體，其特征在于：所述接 觸面為圓弧曲面。本實用新型還
【摘要】 本發(fā)明公開了一種芯片驗證的方法及系統(tǒng)，用以 解決現(xiàn)有技術(shù)中由于手工操作而導(dǎo)致定浮點數(shù)轉(zhuǎn)換精度、轉(zhuǎn)換 效率較低以及芯片驗證效率較低的問題；該方法包括：通過操 作接口向轉(zhuǎn)換裝置輸入定點數(shù)或者浮點數(shù)；所述轉(zhuǎn)換裝置根據(jù) 設(shè)置的符號標(biāo)識、字長和定標(biāo)將輸入的定點數(shù)轉(zhuǎn)換出對應(yīng)的浮 點數(shù)，或者將輸入的浮點數(shù)轉(zhuǎn)換出對應(yīng)的定點數(shù)；將定點數(shù)和 浮點數(shù)分別輸出給需要驗證的芯片和軟件驗證算法進(jìn)行相應(yīng) 的運算處理；將所述芯片運算的結(jié)果和所述算法運算的結(jié)果進(jìn) 行比較，當(dāng)兩者一致時確定所述芯片的硬件運算和軟件運算正 確。采用本發(fā)明提高了芯片驗證效率和驗證精度。。： 【專利類型】發(fā)明申請 【申請人】北京中星微電子有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】100083北京市海淀區(qū)學(xué)院路35號世寧大廈15層 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區(qū)縣】海淀區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200610114650.4 【申請日】2006-11-20 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1949184A 【公開公告日】2007-04-18 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN100389399C 【授權(quán)公告日】2008-05-21 【授權(quán)公告年份】2008.0 【IPC分類號】G06F11/22 【發(fā)明人】馮備戰(zhàn); 游明琦; 艾國 【主權(quán)項內(nèi)容】1、一種芯片驗證的方法，其特征在于，包括步驟： 通過操作接口向轉(zhuǎn)換裝置輸入定點數(shù)或者浮點數(shù)； 所述轉(zhuǎn)換裝置根據(jù)設(shè)置的符號標(biāo)識、字長和定標(biāo)將輸入的定點數(shù)轉(zhuǎn)換出對 應(yīng)的浮點數(shù)，或者將輸入的浮點數(shù)轉(zhuǎn)換出對應(yīng)的定點數(shù)； 將定點數(shù)和浮點數(shù)對應(yīng)輸出給需要驗證的芯片和軟件驗證算法進(jìn)行相應(yīng) 的運算處理； 將所述芯片運算的結(jié)果和所述算法運算的結(jié)果進(jìn)行比較，當(dāng)兩者一致時確 定所述芯片的硬件運算和軟件運算正確。 【當(dāng)前權(quán)利人】北京中星微電子有限公司 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】北京市海淀區(qū)學(xué)院路35號世寧大廈15層 【專利權(quán)人類型】有限責(zé)任公司(外國法人獨資) 【統(tǒng)一社會信用代碼】911101087002349407 【被引證次數(shù)】10 【被他引次數(shù)】10.0 【家族引證次數(shù)】3.0 【家族被引證次數(shù)】10
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