【摘要】一種晶間腐蝕試驗裝置由電加熱套(1)、平面蓋板(4)、截口燒杯(2)等組成，截口燒杯(2)置于電加熱套(1)中，平面蓋板(4)置于截口燒杯(2)上，回流冷凝管(6)與平面蓋板(4)中心孔中的橡膠塞環(huán)(7)插接固定，溫度傳感器(6)和
【摘要】 省略仰視圖。 【專利類型】外觀設計 【申請人】北京興大豪科技開發(fā)有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】100016北京市朝陽區(qū)酒仙橋東路1號M7座 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區(qū)縣】朝陽區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630137725.1 【申請日】2006-08-24 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3660361D 【公開公告日】2007-06-20 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN3660361D 【授權公告日】2007-06-20 【授權公告年份】2007.0 【發(fā)明人】譚慶 【主權項內容】無 【當前權利人】北京興大豪科技開發(fā)有限公司 【當前專利權人地址】北京市朝陽區(qū)酒仙橋東路1號M7座
未經(jīng)允許不得轉載：http://m.mhvdw.cn/1776061052.html
喜歡就贊一下
