【摘要】本發明涉及化學領域中的雜質元素含量測定方 法。本發明所述方法由以下步驟組成：1.選取磷重量百分含量 為0.0025～0.25％金屬硅樣品，置于耐酸容器中；2.按照每克 金屬硅樣品依次加入4～5mL蒸餾水、15～20mL硝酸、4～6m
【摘要】 一種在正交頻分復用系統中糾正采樣頻率偏差的方法及裝置，在OFDM數據符號處各子載波經信道補償、載波殘余頻偏補償等處理后，提取出導頻子載波，并與已知導頻取共軛后相乘，算出各導頻子載波的旋轉角度再除以導頻子載波序號，把得到的結果求平均。然后用這個平均值乘以各子載波序號，再把算出的值作為模為1的復數的角度，并轉換成直角坐標的復數形式。最后把這個復數取共軛，乘以各數據子載波即能完成采樣時鐘偏差補償。當算出的導頻子載波的角度的平均值大于一定值時，通過調整OFDM符號有用部分時間窗起始位置，可糾正更大范圍采樣頻偏。省去了一般采樣頻率偏差糾正的方法所需要的昂貴的高精度壓控晶振，節省了成本，具有很高的 實用價值。 來自：www.macrodatas.cn 【專利類型】發明申請 【申請人】中國科學院上海微系統與信息技術研究所; 上海無線通信研究中心 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】200050上海市長寧區長寧路865號 【申請人地區】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區縣】長寧區 【申請號】CN200610024767.3 【申請日】2006-03-16 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101039292A 【公開公告日】2007-09-19 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】H04L27/26 【發明人】翟志剛; 周皓; 王克星; 卜智勇; 張小東 【主權項內容】1、一種在正交頻分復用系統中糾正采樣頻率偏差的方法，其特征在于包括以下步驟： 1)計算出各導頻子載波的旋轉角度θ(kp，n)； 2)計算當前OFDM符號的頻率最低的正子載波的相位偏移量φ(n)； 3)根據由步驟2)算出的相位偏移量φ(n)，調整下一個OFDM符號有用數據窗的起始位置。 【當前權利人】中國科學院上海微系統與信息技術研究所; 上海無線通信研究中心 【當前專利權人地址】上海市長寧區長寧路865號; 上海市浦東新區海科路100號8號樓4樓 【統一社會信用代碼】12100000425006790C 【被引證次數】37 【被自引次數】4.0 【被他引次數】33.0 【家族被引證次數】37
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